冷热冲击测试箱技术参数
规格型号:TS-80
内箱尺寸:50*40*50cm
冷热冲击测试箱用途
冷热冲击测试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具.
冷热冲击测试箱特点
◆具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,完全有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.
◆先进科学的空气流通循环设计,使室内温度均匀,避免任何死角;完备的安全保护装置,避免了任何可能发生安全隐患,保证设备的长期可靠性
◆具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,最大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行;
◆出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成,冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。
◆箱体内外部材质采用不锈钢板(SUS#304),外部材质有种不同外箱材质可供选择:
冲击恢复时间:高温(150℃)冲击30分钟.
低温:(-40℃or-55℃or-65℃)冲击30分钟.
冲击恢复时间:5分钟以内.
冷热冲击测试箱控制系统
冷冻系统:复叠水冷式欧美原装进口半密闭式或风冷式全封闭高效压缩机组.
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